ST5520缘电阻测试仪,日本日置ST5520_安规/安全标准测试仪

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产品名称：	ST5520缘电阻测试仪,日本日置ST5520
产品型号：	ST5520
品牌：	1612
产品数量：
产品单价：	面议
日期:	2024-09-19

ST5520缘电阻测试仪,日本日置ST5520的详细资料

ST5520缘电阻测试仪,日本日置ST5520
ST5520实现了"高速"缘电阻检查.快50ms的高速判断.快速释放残留电压.任意设置试验电压值（25～1000V（1V分辨率）设置）.

	标准

实现了"高速"缘电阻检查

● 快50ms的高速判断
● 快速释放残留电压
● 任意设置试验电压值（25～1000V（1V分辨率）设置）
● 接触检查功能（防止由于接触不良造成的误判断）
● 短路检查功能（防止不合格品流入市场）

主机无法单独测量。请根据测量目的另外购买测试线。

ST5520缘电阻测试仪,日本日置ST5520

实现缘电阻检查的“快速”

缘电阻测试仪ST5520是一款满足了生产线上快节奏要求的产品。

快50ms的快速判定

以业界快50ms的速度检查完毕。与本公司以往机型相比速度提高了近700ms。
（※波形为9MΩ、10pF的被测物的检查结果。）

高速自动放电功能

检查后的放电时间与以往机型相比大幅缩短。同一条件下比较，也能实现990ms的工时的改善。

2种接触检查

4端子连接时和2端子连接时，有2种接触检查功能。

通过微短路检测查提高检查品质

通过低电压检查准确找出如微短路这样因为高压导致烧损设备的不良现象。

带开关的探头（选件）

可以手持探头直接作业，实现安全、简单的测量。

ST5520缘电阻测试仪,日本日置ST5520
基本参数

测试项目	缘电阻（直流电压施加方式）
测试电压/测量量程（手动/自动）	25 V ≦ V < 100 V (2.000/20.00/200.0 MΩ), 100 V ≦ V < 500 V (2.000/20.00/200.0/2000 MΩ), 500 V ≦ V ≦ 1000 V (2.000/20.00/200.0/4000/9990 MΩ)
基本精度	±2 % rdg. ±5 dgt. 25 V ≦ V < 100 V [0～20 MΩ], 100 V ≦ V < 500 V [0～20 MΩ], 500 V ≦ V ≦ 1000 V [0～200 MΩ]
测试速度	FAST：30ms/次，SLOW：500ms/次（切换）
显示屏	LCD (寿命100,000小时),背光灯4阶段
存储功能	保存内容：额定测量电压、比较器上下限值、测试模式、判定时蜂鸣音、测试时间、响应时间、电阻量程、测量速度存储数：多10组（可保存/读取）
测试模式	连续模式、PASS STOP模式、FAIL STOP模式、强制结束时判定模式（切换）
比较设置	UPPER_FAIL：测量值≧上限值 PASS：上限值＞测量值＞下限值 LOWER_FAIL：测量值≦下限值
判定处理	蜂鸣音、PASS/U.FAIL/L.FAIL 的LED 灯亮，UL_FAIL时U.FAIL/L.FAIL同时灯亮，EXT. I/O 输出、通过RS-232C获取判定结果
试验时间计时器	0.045 s ～ 999.999 s（0.001 s 分辨率），从施加电压到判定合格与否的时间
响应时间计时器	试验开始后，禁止按照0.005 s ～ 999.999 s（0.001 s 分辨率）设置比较器判定动作的时间
模拟输出	DC +4 V f.s.
接口	RS-232C（标配），外部I/O（外部控制器用输入，判定结果输出），BCD输出（仅限ST5520-01）
电源	AC100 V ～ 240 V，50/60Hz，zui大25VA
体积及重量	215W×80H×166Dmm，1.1kg
附件	使用说明书×1、电源线×1、EXT.I/O连接器×1、连接器盖×1