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产品名称: | IM3523 LCR测试仪,日置IM3523,IM3523 |
产品型号: | IM3523 |
品牌: | 1612 |
产品数量: | |
产品单价: | 面议 |
日期: | 2024-09-19 |
IM3523 LCR测试仪,日置IM3523,IM3523的详细资料
IM3523 LCR测试仪,日置IM3523,IM3523
选件 |
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应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
● 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。
● 内置比较器和BIN功能
● 2ms的快速测试时间
本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接:交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637,不需要硬件控制器。
IM3523 LCR测试仪,日置IM3523,IM3523
在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。这时,使用1台告诉连续测量不同条件。
为了使用1台LCR测试仪测量多种产品,要求率的更改设置。
IM3523的面板保存功能更,多保存60组测量条件,还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外,可以使用外部控制端口控制面板编号的读取,因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。
检查4端子测量时样品间的接触不良。
测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻,如果在所设置的阈值以上时则显示错误。
测量模式 | LCR,连续测试 |
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测量参数 | Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
测量量程 | 100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义) |
可显示量程 |
Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [单位]* ~9.99999G [单位])(*为zui高分辩率时的显示位数) 只有 Z和Y显示真有效值 θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999) Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%) |
基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
测量频率 | 40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz) |
测量信号电平 |
正常模式 V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA~50mArms,10μArms |
输出阻抗 | 正常模式:100Ω |
显示 | 单色LCD |
测量时间 | 2ms(1kHz,FAST,代表值) |
功能 | 比较器,分类测量(BIN功能),面板读取/保存、存储功能 |
接口 |
EXT I/O(处理器),USB通信(高速) 选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一 |
电源 | 100~240V AC,50/60Hz,zui大50VA |
尺寸及重量 | 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
附件 | 电源线×1,使用说明书×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1 |
DC~5MHz,1m长
4端子开尔文夹9140-10DC~200kH,50 Ω,1 m长
镊形探头L2001线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电间隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)
测试治具9261-10线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm
测试治具9262DC~8 MHz, 直接连接型
SMD测试治具9263直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm
SMD测试治具9677用于侧面有电的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699用于底部有电的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下
*RS-232C连接线可用于连锁的交叉线。RS232C连接线9637(9针-9针,交叉型)不能用于硬件流控制时。
LAN接口Z3002 GP-IB连接线9151-022m长